纳米软件NSAT-2000电源管理芯片测试系统适用于各类46XX国产化电源管理芯片的自动化测试，致力于为电源芯片的研发、生产测试提供软硬件一体化测试方案，旨在解决测试过程中因导线内阻过大而影响测试精准度等痛点。更重要的是，该系统可兼容用户46XX系列产品，快速检测，通过效率曲线以及多类型可视化看板，深入分析数据，全面评估产品性能，为电源芯片质量和性能的优化提升提供有力支持。
输入端：80V/60A/800W
输出端：CH1/CH2：150V/60A/400W
CH3/CH4：150V/120A/600W
系统可灵活适应不同规格参数的电源管理芯片测试。
部分测试项目示例：
1. 输入电压范围
2. 输出电压范围
3. 输出纹波
4. 电压调整率
6. 反馈端电压
7. 欠压关断
8. 欠压恢复滞后
9. 输入偏置电流
10. 输出电流
11. 输出电流限制
12. 启动过冲
13. 负载跃变电压
14. 效率测试
15. 效率曲线
16. SW占空比测试
17. 输入输出信号相位差测试
18. 内部上取样电阻
19. 内部VCC电压
20. INTVCC负载调节
21. 震荡器频率
22. CLKIN阈值
23. 启动延时
电源管理芯片测试系统主要由电源、负载、示波器等测试仪器及工装夹具集成，这些测试设备都会集成在自动化测试柜中。系统会通过边缘计算设备ATEBOX程控测试仪器，调动测试流程，完成被测电源芯片的自动化测试。
1.选择测试方案，启动测试
在方案运行界面选择测试方案，并点击“运行”，进入测试。
2.查看测试记录，导出报告
在记录报告界面查看测试信息及详情，并导出数据报告。
3.数据洞察，分析被测电源芯片数据
在数据洞察界面查看效率曲线以及各项指标的数据分析。
1.系统内含数据洞察功能，支持从多指标、多种测试条件等多维度深入分析、对比数据，全面评估被测电源芯片的性能。自动生成效率曲线，多类型图表展示数据，挖掘数据价值，以数据驱动生产力。
2.自主可控，开放式操作流程，用户可根据需求、业务流程等变化灵活修改、调整测试项目和方案，适应产品迭代升级的需求。
3.自动采集、存储、上传数据，支持本地保存、与MES系统对接。
4.灵活数据报告，支持word、excel文档导出，可以自定义报告模板，允许报告批次、合并导出。
5.测试设备灵活，系统兼容2000+仪器，且会持续兼容，用户可以无感替换测试仪器，帮助企业实现仪器复用，降低总体成本。
6.集测试系统、报告系统、数据分析系统于一体，操作流程无缝衔接，打破了传统自动化测试系统独立运行、独立维护的限制，方便轻松管理。
7.系统采取B/S架构，无需下载，通过浏览器即可访问，可以随时随地开始测试，提高了测试的灵活性和便利性，同时保障数据安全。
8.数据权限管理功能支持对不同层级的用户开放不同的权限，可适配公司管理架构。
