时间：2025-09-01
随着科技的迅速发展，电源芯片的测试从古早的手动测转变为自动测试，而为了进一步提升测试效率，目前的发展趋势也从单个单元测试转向大规模阵列的测试形式。传统仪器仪表的设计主要是针对单个产品测试，而当测试规模从几个拓展到成百上千个时，如果继续使用传统测试方式，那么测试效率将面临巨大挑战。
为了解决这些测试效率问题，纳米软件基于ATECLOUD平台推出了ATECLOUD-IC电源芯片自动测试系统的整体解决方案。系统通过自动化测试、工装设计、算法革新等方面，大幅度提升电源芯片的测试效率，满足用户多元化的测试场景需求。
自动化测试：
传统电源芯片的测试中，测试人员需要操作电源、负载、示波器等仪器，对产品的电性能进行手动测试，测试中的效率、欠压锁定/恢复等项目，需要多次循环重复测试，使得测试人员一天仅能完成3个电源芯片的测试，如果还需要制作报告、分析数据，那么完成一个产品的测试，周期会大幅度增加。而ATECLOUD-IC则采用软件控制仪器的方式对产品进行自动化测试，仅需一名测试员控制软件，启动测试；系统就会自动进行后续的仪器操作与测试，不仅无需测试员操作仪器，而且后续测试的数据报告可一键导出，自动分析，一个电源芯片的全流程测试仅需5分钟。
算法革新：
除了自动化测试外，对于某些涉及到复杂算法的电源芯片测试项目，系统中可提供AI算法功能，将AI算法插入到测试方案中，无需人工计算即可得到所需的参数指标，大幅度节省后期对测试数据进行运算的时间和精力。
自动化工装设计：
虽然在研发测试中，系统对单个产品的测试效率提升明显，但对于产线的大批量测试而言，还是需要软硬件一体化的设计配合，系统可提供自动化切换工装和多产品测试通道工装，不仅可实现测试的自动切换，而且可以同时满足多产品的并行测试，系统的测试功能也可分为串行和并行测试，可随时更加用户需求进行选择。
通过以上的设计无论用户是研发场景的高精度测试，还是生产场景的大批量测试，使用ATECLOUD-IC电源芯片测试系统，可帮助企业提升测试效率，提高产线产能。
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