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射频组件测试专题

射频器件测试系统:ATECLOUD-RF如何完成射频芯片的自动化测试?

时间:2025-08-29

射频器件测试系统作为射频行业产品研发和生产的“标尺”和“质检员”,对于射频企业而言至关重要,自动化的测试系统不仅能提升企业的测试效率,更是企业发展和创新的基础。那么作为纳米软件旗下的ATECLOUD-RF测试系统,是如何完成射频芯片的自动化测试呢?

 

项目搭建流程


不同于传统的射频ATE测试软件需要从底层代码一步步开发,基于ATECLOUD平台的ATECLOUD-RF测试系统可以直接在平台中通过封装好的文字指令,直接搭建测试方案。平台中会将射频器件测试的仪器指令通过文字框的形式封装在平台中,即使不懂编程代码,只要熟悉仪器测试步骤,企业员工即可独立搭建自动化测试方案。

 

测试项目


ATECLOUD-RF测试系统会现将复杂的测试方案分解为独立的测试项目,例如将射频线缆的测试方案分解为插入损耗测试项目、驻波比测试项目等,现在平台中完成这些独立项目的搭建,再将这些项目组建成方案,从而完成整体的自动化测试。

 

测试指标结果


用户在平台中搭建完射频测试方案后,可直接点击一键运行,系统会直接自动程控探针台,通过探针台确认射频芯片位置,在通过控制网络分析仪对芯片的S参数进行自动化测试。

 

数据记录报告


而且系统在测试时会将测试数据实时存储在平台中,用户可以通过产品编号、方案名称、测试时间等信息精准检索,快速查找历史数据,帮助企业通过历史数据迭代产品工艺。

 

测试数据导出


ATECLOUD-RF测试系统还支持数据报告的一键导出,无论是EXCEL格式还是Word格式都可以按需选择,报告的格式还支持自定义编辑。想要对所有数据分析的用户还可以在数据洞察模块中对测试数据进行综合分析,无论的射频芯片的参数还是测试人员的能效比,都可以直观地通过各类图表进行集中展示。

原文链接:https://www.namisoft.com/news/spzjcszt/1120.html

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