时间:2024-07-30
射频晶圆芯片一直是现代通讯技术中的重要组成部分,随着技术的发展,射频晶圆芯片的集成度不断提高,体积越来越小,功能性则越来越强。优秀的射频晶圆芯片可以在有限的空间内实现复杂多变的通讯功能,满足人们对于小型化、便携化的需求。面对射频晶圆芯片日益增长的功能需求,针对射频晶圆芯片的测试要求也逐渐提升,如何准确快速的完成射频晶圆芯片的批量测试则成了众多射频芯片企业面临的难题。
面对射频芯片企业的需求,纳米软件针对射频晶圆芯片开发出了一款射频测试系统NSAT-1000,该系统不仅可以满足射频晶圆芯片的批量测试,而且对于腔体滤波器、放大器、耦合器等射频器件的测试也可以满足,同时在测试之后也可以将测试数据导出为数据报告,并对数据进行智能分析生产图表,方便企业对数据进行对比分析。那么ATECLOUD是如何对射频晶圆芯片进行批量测试的呢?
使用ATECLOUD测试射频晶圆芯片依靠系统强大的兼容性,可以直接识别矢量网络分析仪和探针台,并且通过探针台定位被测晶圆芯片的坐标,采集网络分析仪的数据,生成map图,测试完成之后再将数据传回系统,测试结果也会实时展示在测试面板中,pass、fail指标自动判别测试结果,这样即可完成一颗射频芯片的自动化测试。而对于射频晶圆来说,晶圆上面的芯片众多,可以在系统中选择批量测试,就可以让系统不断重复上述操作从而实现一键批量测试。
测试完成后,我们可以在系统的记录报告中查看所有产品的测试指标数据,包括测试时配置的参数、产品合格信息、测试项目参数等重要信息均可直接显示。想要对数据进行对比分析则可以在数据洞察界面,查看对应方案的数据分析图表,包括产品合格率、人员能效比、产品效率曲线对比、指标参数分布图等各维度分析。
ATECLOUD对射频晶圆芯片的自动化测试可以极大的提升企业测试效率,为企业节省时间和人员成本,同时数据分析可以为企业发掘数据价值,为企业决策提供准确的数据支持。更多射频组件测试系统可以直接访问:www.namisoft.com/solution/spzjcsxt/473.html