时间：2024-08-08
在电源芯片的测试中我们对电源芯片的输入/输出特性测试、时序测试等常规测试项目很熟悉，但对于电源芯片而言除了常规的测试项目之外，还有超过60多项的其他测试项目。例如，对于军用电源芯片来说，不仅需要测试输入/输出特性项目，还会对电源芯片的三温进行测试，因为军用电源芯片需要应对更为复杂的环境，因此电源芯片在极端温度下的性能测试极为重要。
电源芯片的三温测试是军用电源芯片基本、常见的测试方法，包含低温测试、常温测试、高温测试三种，测试工具为高低温测试箱，先把电源管理芯片置入测试电路板上，再使用高低温测试箱，开展不同温度的输入、输出、功率等测试。这种测试方法用于评估电源芯片在不同温度环境下的性能和稳定性，以确保其在实际应用中能够正常工作。
电源芯片三温测试方法：
1.将电源芯片置入测试电路板上，确保连接正确无误。
2.设置高低温测试箱的温度范围，通常军工级电源芯片的测试温度范围为-55℃（低温）至125℃（高温），常温测试一般在25℃左右进行。
3.将测试箱温度设定至-55℃，并将被测电源芯片置入其中保持一段时间，观察并记录电源芯片在该温度下的输入、输出、功率等电气特性。（常温和高温测试步骤基本与其相同，只是测温箱中的温度不同）
4.在每个测试温度下，记录电源芯片的电气特性数据，如输入电压、输出电压、电流输出、功率转换效率等。对数据进行比较分析，评估电源芯片在不同温度下的性能稳定性和可靠性。
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