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电源模块测试专题

电源芯片该如何进行三温测试?-纳米软件

时间:2024-08-08

      在电源芯片的测试中我们对电源芯片的输入/输出特性测试、时序测试等常规测试项目很熟悉,但对于电源芯片而言除了常规的测试项目之外,还有超过60多项的其他测试项目。例如,对于军用电源芯片来说,不仅需要测试输入/输出特性项目,还会对电源芯片的三温进行测试,因为军用电源芯片需要应对更为复杂的环境,因此电源芯片在极端温度下的性能测试极为重要。

电源芯片测试

      电源芯片的三温测试是军用电源芯片基本、常见的测试方法,包含低温测试、常温测试、高温测试三种,测试工具为高低温测试箱,先把电源管理芯片置入测试电路板上,再使用高低温测试箱,开展不同温度的输入、输出、功率等测试。这种测试方法用于评估电源芯片在不同温度环境下的性能和稳定性,以确保其在实际应用中能够正常工作。

电源芯片测试

电源芯片三温测试方法:

1.将电源芯片置入测试电路板上,确保连接正确无误。

2.设置高低温测试箱的温度范围,通常军工级电源芯片的测试温度范围为-55℃(低温)至125℃(高温),常温测试一般在25℃左右进行。

电源芯片测试

3.将测试箱温度设定至-55℃,并将被测电源芯片置入其中保持一段时间,观察并记录电源芯片在该温度下的输入、输出、功率等电气特性。(常温和高温测试步骤基本与其相同,只是测温箱中的温度不同)

4.在每个测试温度下,记录电源芯片的电气特性数据,如输入电压、输出电压、电流输出、功率转换效率等。对数据进行比较分析,评估电源芯片在不同温度下的性能稳定性和可靠性。

      更多电源芯片测试项目可访问:电源管理芯片测试系统-电源管理芯片测试系统-解决方案-纳米软件 (namisoft.com)



原文链接:https://www.namisoft.com/news/dymkcszt/530.html

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