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电源管理芯片测试专题

纳米软件的数据洞察可以为电源芯片企业提供哪些帮助?-纳米软件

时间:2024-07-16

      在电测行业中数据分析一直是各个企业和研究所不可或缺的一部分,对测试数据进行整体化分析有利于企业发掘数据价值,为企业的决策提供数据支持,帮助企业良性发展。因此,越来越多的企业在测试完成之后都会对数据进行收集分析。但是面对大批量的测试,人工手动分析数据不仅费时费力,而且极其容易出现人为误差,从而使最终的分析结果的准确性和专业性大打折扣,那么纳米软件ATECLOUD平台数据洞察是如何帮助客户实现自动化数据分析的呢?

 

数据分析软件


我们以上海某电源芯片测试客户为例,为大家说明一下ATECLOUD如何帮助客户发掘数据价值,提升企业生产效率。

上海某半导体技术公司是一家专业生产、研发高性能集成电路的高新技术企业,该企业的芯片测试和数据分析在此前都依靠人工手动进行,传统人工分析数据往往需要大量的时间处理数据,尤其是针对大批量测试数据时这一情况尤为严重。该企业在完成一批产品的测试后,测试数据会达到40-50页,测试人员不仅需要完成测试而且还需要将测试数据收集到表格上,然后对数据进行分析,大多数情况下完成测试之后,后续的数据分析需要1-2个月才会处理完成,极大地限制了企业对产品性能的分析和对比;而且面对海量的数据,测试人员长时间记录分析也会出现记录数据错误的情况,导致后续数据分析的准确性欠佳,因此该企业对测试和数据分析的自动化需求极为强烈,也为后续和纳米软件的合作打下了基础。

 

电源芯片测试


纳米软件ATECLOUD测试系统中包括了测试模块、权限模块、数据报告模块以及数据洞察模块等多个功能模块,其中测试模块可以帮助企业完成需要测试项目的自动化测试,而数据报告和数据洞察模块,则可以帮助企业整理导出数据并进行大数据分析。

数据报告模块可以实时查看测试指标数据,同时也支持历史数据溯源查询,其中数据检索功能更是可以查询特定项目的所有数据;数据报告导出支持自定义模块,导出报告的格式可以自由选择,导出方式可选择单独导出和批量导出两种模式,当然也可以选择将多个测试数据导出到同一报告之中,方便灵活的导出形式和模式让企业可以根据自己的需求进行选择。

 

电源芯片测试系统


数据洞察模块功能同样强大,数据洞察可以绑定企业的测试方案,每次测试完成后,测试的数据指标会自动收集到数据洞察模块中,无需客户一一导入,方便灵活;而且数据洞察功能支持各个类型的数据分析,无论是员工测试的能效比、企业产品的测试效率、产品指标正态分布图,还是多款产品的实时对比曲线都可以完整分析展示。比如,上面的客户对于产品的效率曲线对比分析又很高的需求,那么就可以将多个芯片的效率曲线直接导入到同一个图表中对比分析,而且还可以对图表进行索引,例如同一型号不同批次的效率曲线对比。使用ATECLOUD之后可以极大的为企业缩减时间成本,从测试到数据报告导出,直至数据分析,原本40-50页的数据现在仅需2-3小时就可以完成,而且可以避免人为误差,提高数据准确度。

 

具体的客户案例可查看:www.namisoft.com/case/dyglxpcsal/491.html

原文链接:https://www.namisoft.com/news/dyglxpcszt/497.html

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